TY - CONF
TI - Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques
AU - Karras, D. A.
AU - Καρκάνης, Σ.
AU - Iakovidis, D. K.
AU - Μαρούλης, Δημ.
AU - Mertzios, B. G.
PY - 2001
SP - 165-173
PB - Εκδοτικός Οργανισμός Λιβάνη
T2 - 8th Panhellenic Conference in Informatics Proceedings (Volume 2)
ER -