Karras, D. A.,Καρκάνης, Σ.,Iakovidis, D. K.,Μαρούλης, Δημ.,Mertzios, B. G., Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques, 165-173, 2001, Εκδοτικός Οργανισμός Λιβάνη,