Μονάδα:
Κατεύθυνση Φυσική των Υλικών (ΒΑΣΙΚΗ ΦΥΣΙΚΗ)Βιβλιοθήκη Σχολής Θετικών Επιστημών
Ημερομηνία κατάθεσης:
2015-06-08
Συγγραφέας:
Χρύση Αντιγόνη
Στοιχεία επιβλεπόντων καθηγητών:
Μαρία Καλαμιώτου Aναπληρώτρια Καθηγήτρια
Πρωτότυπος Τίτλος:
«Προσδιορισμός δομής και μικροδομής υλικών τεχνολογικού ενδιαφέροντος (νανοκρυσταλλικό TiO2, υπεραγωγός υψηλών θερμοκρασιών) με XRPD»
Γλώσσες εργασίας:
Ελληνικά
Μεταφρασμένος τίτλος:
“Determination of structure and microstructure of materials of technological interest (nanocrystalline TiO2, High Temperature Superconductor) using XRPD”
Περίληψη:
Ο προσδιορισμός της δομής των διαφόρων υλικών είναι απαραίτητος για την
κατανόηση των φυσικών ιδιοτήτων τους. Για τα υλικά τεχνολογικού ενδιαφέροντος
είναι επιπλέον ιδιαίτερα σημαντική η κατανόηση των χαρακτηριστικών της
μικροδομής τους, δηλαδή του μέσου μεγέθους κρυσταλλιτών/περιοχών σύμφωνης
σκέδασης και των μικροπαραμορφώσεων των κρυσταλλιτών. Η περιθλασιμετρία σκόνης
ακτίνων-Χ (XRPD) είναι μια από τις κυριότερες μεθόδους προσδιορισμού των
παραμέτρων δομής και μικροδομής πολυκρυσταλλικών υλικών. Στην παρούσα εργασία
μελετώνται με XRPD δύο υλικά τεχνολογικού ενδιαφέροντος, το νανοκρυσταλλικό
TiO2 και ο υπεραγωγός υψηλών θερμοκρασιών (Y-Pr)123. Εφαρμόζεται η μέθοδος
ανάλυσης Rietveld, στην οποία ενσωματώνονται και οι παράμετροι μικροδομής.
Το νανοκρυσταλλικό TiO2 είναι φωτοκαταλύτης με ευρύτατη εφαρμογή στην
αποικοδόμηση υγρών και αέριων ρύπων. Η φωτοκαταλυτική απόδοσή του εξαρτάται
σημαντικά από το βέλτιστο συνδυασμό δομικών–μικροδομικών χαρακτηριστικών όπως
είναι η κρυσταλλική φάση και το μικρό μέγεθος νανοκρυσταλλιτών (μεγάλη ειδική
επιφάνεια) και της μικρής πυκνότητας κρυσταλλικών ατελειών. Μελετάται η
επίδραση της θερμοκρασίας πύρωσης στη δομή και μικροδομή του νανοκρυσταλλικού
TiO2 και η σχέση μεταξύ των μικροπαραμορφώσεων/κρυσταλλικής ποιότητας καθώς
και των δομικών χαρακτηριστικών με το μέγεθος κρυσταλλιτών.
Η ένωση Υ1-xPrxBa2Cu3Oy ((Y-Pr)123) είναι υπεραγωγός υψηλών θερμοκρασιών, με
κρίσιμη θερμοκρασία (Tc) μειούμενη μονότονα με την αύξηση της περιεκτικότητας
σε Pr. Mελετάται η επίδραση της αντικατάστασης του Υ από Pr στη δομή και
μικροδομή δειγμάτων Υ1-xPrxBa2Cu3Oy (x=0.0-0.5), που παρασκευάστηκαν με τη
μέθοδο στερεάς αντίδρασης. Η αύξηση της περιεκτικότητας σε Pr οδηγεί σε
μεταβολές στα δομικά χαρακτηριστικά (κρυσταλλικές σταθερές, μήκος δεσμών) και
αύξηση των μικροπαραμορφώσεων, δηλαδή διακύμανσης των κρυσταλλικών σταθερών,
οι οποίες υποδεικνύουν την αύξηση γραμμικών κρυσταλλικών ατελειών ή/και την
αύξηση της στοιχειομετρικής ανομοιογένειας στους κρυσταλλίτες.
Λέξεις-κλειδιά:
XRPD, Μικροδομή, Δομή
Αρ. σελίδων ευρετηρίου:
2
Αρ. βιβλιογραφικών αναφορών:
19
Αρχείο:
Δεν επιτρέπεται η πρόσβαση στο αρχείο.
document.pdf
2 MB
Δεν επιτρέπεται η πρόσβαση στο αρχείο.
