1. Συλλογές
  2. Πρακτικά Συνεδρίων
  3. 8th Panhellenic Conference in Informatics Proceedings (Volume 2)
Εξαγωγή Citation

Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques

Άρθρο Συνεδρίου uoadl:1042000 723 Αναγνώσεις

Πρωτότυπος Τίτλος:
Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques
Γλώσσες Τεκμηρίου:
Αγγλικά
Δημιουργός:
Karras, D. A.
Καρκάνης, Σ.
Iakovidis, D. K.
Μαρούλης, Δημ.
Mertzios, B. G.
Περίληψη:
Δεν υπάρχει περίληψη
Κύρια θεματική κατηγορία:
Επεξεργασία Σήματος και Εικόνας
Σελίδες (από-έως):
165-173
Μόνιμη διεύθυνση:
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/1042000
Το ψηφιακό υλικό του τεκμηρίου δεν είναι διαθέσιμο.
ΕΚΠΑ ΕΣΠΑ