Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques

Άρθρο Συνεδρίου uoadl:1042000 671 Αναγνώσεις

Πρωτότυπος Τίτλος:
Improved defect detaction in manufacturing using novel multidimensional wavelet feature extraction involving vector quantization and PCA techniques
Γλώσσες Τεκμηρίου:
Αγγλικά
Δημιουργός:
Karras, D. A.
Καρκάνης, Σ.
Iakovidis, D. K.
Μαρούλης, Δημ.
Mertzios, B. G.
Περίληψη:
Δεν υπάρχει περίληψη
Κύρια θεματική κατηγορία:
Επεξεργασία Σήματος και Εικόνας
Σελίδες (από-έως):
165-173
Το ψηφιακό υλικό του τεκμηρίου δεν είναι διαθέσιμο.