Μονάδα:
Τομέας Υπολογιστικών Συστημάτων και ΕφαρμογώνΒιβλιοθήκη Σχολής Θετικών Επιστημών
Ημερομηνία κατάθεσης:
2015-03-02
Συγγραφέας:
Φουτρής Νικόλαος
Στοιχεία επταμελούς επιτροπής:
Δημήτριος Γκιζόπουλος Αναπληρωτής Καθηγητής (Επιβλέπων), Αντώνιος Πασχάλης Καθηγητής, Μιχάλης Ψαράκης Επίκουρος Καθηγητής
Πρωτότυπος Τίτλος:
Architectures for dependable modern microprocessors
Γλώσσες διατριβής:
Αγγλικά
Μεταφρασμένος τίτλος:
Αρχιτεκτονικές Αξιόπιστης Λειτουργίας Σύγχρονων Μικροεπεξεργαστών
Περίληψη:
Η εξέλιξη των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων σε συνδυασμό με τους αυστηρούς χρονικούς
περιορισμούς καθιστούν την επαλήθευση της ορθής λειτουργίας των επεξεργαστών
μία εξαιρετικά απαιτητική διαδικασία. Με κριτήριο το στάδιο του κύκλου ζωής
ενός επεξεργαστή, από την στιγμή κατασκευής των πρωτοτύπων και έπειτα, οι
τεχνικές ελέγχου ορθής λειτουργίας διακρίνονται στις ακόλουθες κατηγορίες: (1)
Silicon Debug: Τα πρωτότυπα ολοκληρωμένα κυκλώματα ελέγχονται εξονυχιστικά, (2)
Manufacturing Testing: ο τελικό ποιοτικός έλεγχος και (3) In-field
verification: Περιλαμβάνει τεχνικές, οι οποίες διασφαλίζουν την λειτουργία του
επεξεργαστή σύμφωνα με τις προδιαγραφές του. Η διδακτορική διατριβή προτείνει
τα ακόλουθα: (1) Silicon Debug: Η εργασία αποσκοπεί στην επιτάχυνση της
διαδικασίας ανίχνευσης σφαλμάτων και στον αυτόματο εντοπισμό τυχαίων
προγραμμάτων που δεν περιέχουν νέα -χρήσιμη- πληροφορία σχετικά με την αίτια
ενός σφάλματος. Η κεντρική ιδέα αυτής της μεθόδου έγκειται στην αξιοποίηση της
έμφυτης ποικιλομορφίας των αρχιτεκτονικών συνόλου εντολών και στην δυνατότητα
από-διαμόρφωσης τμημάτων του κυκλώματος, (2) Manufacturing Testing: προτείνεται
μία μέθοδο για την βελτιστοποίηση του έλεγχου ορθής λειτουργίας των
πολυνηματικών και πολυπύρηνων επεξεργαστών μέσω της χρήση λογισμικού
αυτοδοκιμής, (3) Ιn-field verification: Αναλύθηκε σε βάθος η επίδραση που έχουν
τα μόνιμα σφάλματα σε μηχανισμούς αύξησης της απόδοσης. Επιπρόσθετα, προτάθηκαν
τεχνικές για την ανίχνευση και ανοχή μόνιμων σφαλμάτων υλικού σε μηχανισμούς
πρόβλεψης διακλάδωσης.
Λέξεις-κλειδιά:
Αξιοπιστία, Σφάλματα Yλικού, Σχεδιαστικά Σφάλματα
Αρ. σελίδων ευρετηρίου:
31-37
Αρ. βιβλιογραφικών αναφορών:
111
